W celu uzyskania dostępu do informacji dotyczących danego kursu należy najpierw kliknąć na nazwę kursu.
- laboratorium nr 1 - Zajęcia organizacyjne
- laboratorium nr 2 - Pomiary charakterystyk I-U elementów elektronicznych biernych
- laboratorium nr 3 - Warystory. Ogranicznik przepięć
- laboratorium nr 4 - Charakterystyka I-U złącza P-N
- laboratorium nr 5 - Diody Zenera. Stabilizator napięcia
- laboratorium nr 6 - Diody w układach prostowniczych
- laboratorium nr 7 - Wpływ temperatury na półprzewodniki oraz na złącze P-N
- laboratorium nr 8 - Wpływ oświetlenia na półprzewodniki oraz na złącze P-N
- laboratorium nr 9 - Charakterystyki statyczne tranzystora bipolarnego
- laboratorium nr 10 - Tranzystor bipolarny w układzie wzmacniacza małej częstotliwości
- laboratorium nr 11 - Charakterystyki statyczne tranzystorów polowych JFET
- laboratorium nr 12 - Charakterystyki statyczne tranzystorów polowych MOSFET
- laboratorium nr 13 - Badanie monolitycznych układów scalonych I
- laboratorium nr 14 - Badanie monolitycznych układów scalonych II
- laboratorium nr 1 - Zajęcia organizacyjne
- laboratorium nr 2 - Półprzewodnikowe elementy przełączające
- laboratorium nr 3 - Pomiar częstotliwości granicznej tranzystora bipolarnego
- laboratorium nr 4 - Badanie charakterystyk i parametrów bramek logicznych
- laboratorium nr 5 - Diody pojemnościowe
- laboratorium nr 6 - Tranzystor E-MOSFET w układzie sterowania mocą metodą PWM
- laboratorium nr 7 - Parametry i zastosowania tyrystorów
- laboratorium nr 8 - Przetwornice napięcia DC/DC z kluczami tranzystorowymi
- laboratorium nr 9 - Scalone stabilizatory napięcia
- laboratorium nr 10 - Stabilizacja termiczna punktu pracy tranzystora bipolarnego
- laboratorium nr 11 - Praca impulsowa tranzystora bipolarnego
- laboratorium nr 12 - Pomiary parametrów małosygnałowych tranzystora bipolarnego
- laboratorium nr 13 - Badanie wpływu temperatury na parametry tranzystorów polowych
- Test kompetencji
- Przykładowe zagadnienia
- ćw. 1. Instrukcja wprowadzająca
- ćw. 2. Charakterystyki I-U złącza p-n
- ćw. 3. Diody w układach prostowniczych
- ćw. 4. Stabilizator napięcia z diodą Zenera
- ćw. 5. Tranzystor bipolarny
- ćw. 6. Wzmacniacz tranzystorowy
- ćw. 7. Tranzystor polowy MOSFET
- ćw. 8. Elementy optoelektroniczne
- ćw. 9. Układy scalone CMOS
- laboratorium nr 1 - Zajęcia organizacyjne
- laboratorium nr 2 - Badanie parametrów diod półprzewodnikowych
- laboratorium nr 3 - Zastosowanie diod półprzewodnikowych w układach prostowniczych
- laboratorium nr 4 - Zastosowanie diod półprzewodnikowych w układach stabilizacji napięcia
- laboratorium nr 5 - Badanie charakterystyk statycznych tranzystorów bipolarnych
- laboratorium nr 6 - Badanie charakterystyk statycznych tranzystorów polowych MOSFET
- laboratorium nr 7 - Zastosowanie półprzewodnikowych elementów przełączających w układach sterowania mocą
- przykładowe zagadnienia
- ćw. 1. Wprowadzenie
- ćw. 2. Teoria barwy
- ćw. 3. i 4. detektory
- ćw. 3. Detektory statyczne
- ćw. 4. Detektory dynamiczne
- ćw. 5. i 6. Półprzewodnikowe źródła światła LED i LD
- ćw. 5. Charakterystyki spektralne źródeł światła – diody LED (część wykonawcza)
- ćw. 6. Charakterystyki spektralne źródeł światła – lasery
- ćw. 7. Transoptory
- ćw. 8. Półprzewodnikowe urządzenia oświetleniowe
- ćw. 9. Ogniwa słoneczne
- przykładowe zagadnienia
- ćw. 1. Wprowadzenie, szkolenie BHP, praca ze spektrometrami
- ćw. 2. Teoria barwy
- ćw. 3. Filtry optyczne
- ćw. 4. Półprzewodnikowe detektory światła
- ćw. 5. i 6. Półprzewodnikowe źródła światła LED i LD
- ćw. 5. Charakterystyki spektralne półprzewodnikowych źródeł światła (LED)
- ćw. 6. Charakterystyki spektralne półprzewodnikowych źródeł światła (LD)
- ćw. 7. Wpływ temperatury na charakterystyki spektralne półprzewodnikowych źródeł światła
- ćw. 8. Półprzewodnikowe urządzenia oświetleniowe
- ćw. 9. Ogniwa słoneczne
Diody:
- 1N5333-1N5388
- AAP120
- AAYP37
- BAT42_BAT43
- BAV19-BAV21
- BB104-BB109
- BBAP05
- BZX55C2V4-BZX55C75
- BZX85C3V3-BZX85C33
- DZG1-DZG7
- SB120-SB1100
Tranzystory bipolarne:
Tranzystory polowe:
Elementy optoelektroniczne:
Układy scalone:
Różne:
- regulamin sali 218 C2
- regulamin sali 413 C2
- instrukcja programu Rejestrator XY
- instrukcja obsługi charakterografu
- skrócona instrukcja obsługi generatora funkcyjnego Agilent 33220a
- skrócona instrukcja obsługi multimetru Agilent 34401a
- skrócona instrukcja obsługi multimetru Array M3500a
- skrócona instrukcja obsługi oscyloskopu Keysight_DSO1072b
- skrócona instrukcja obsługi zasilacza Agilent_E3631a
- skrócona instrukcja obsługi zasilacza Agilent E3649a
- Instrukcje obsługi spektrofotometru oraz inne materiały pomocnicze są dostępne na stronie producenta w dziale: Technical Specification Sheets (link).
- papier lin-log
- papier log-log
Politechnika Wrocławska ©